全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng),可以精確快速地完成技術(shù)清潔度檢測(cè)環(huán)節(jié)中的光學(xué)分析,包括標(biāo)準(zhǔn)分析和深入分析,涵蓋濾膜掃描、顆粒結(jié)果復(fù)核和報(bào)表生成以及數(shù)據(jù)展現(xiàn)四個(gè)步驟,具有高可靠性和高精確性的檢測(cè)數(shù)據(jù)結(jié)果、直觀的用戶操作界面,以及傳統(tǒng)掃描速度兩倍的偏光一次掃描技術(shù)等多項(xiàng)技術(shù)特點(diǎn)。
1. 全自動(dòng)檢測(cè)操作:使復(fù)雜的檢測(cè)流程簡(jiǎn)單化,檢測(cè)人員易上手,智能化檢測(cè)。
2. 自動(dòng)拍照 / 無(wú)縫拼接/先近圖像矯正技術(shù) / 100分之圖像預(yù)覽:采用核心無(wú)縫拼圖技術(shù),保證邊緣圖像無(wú)陰影暗角,超越進(jìn)口設(shè)備拼接效果。
3. 超高自動(dòng)化程度:一鍵操作,僅一次掃描。避免人為操作誤差,保證測(cè)量系統(tǒng)重復(fù)性,用戶無(wú)需復(fù)雜的專業(yè)知識(shí),也可輕松完成清潔度檢測(cè)系統(tǒng)分析。
4. 顆粒算法:系統(tǒng)分析標(biāo)準(zhǔn)中包含多種顆粒尺寸定義,結(jié)合圖像算法,滿足不同客戶不同標(biāo)準(zhǔn)對(duì)顆粒的不同分析要求。
5. 精準(zhǔn)回看:對(duì)目標(biāo)顆粒ID回溯功能,進(jìn)一步測(cè)量,判斷顆粒屬性,使數(shù)據(jù)更可靠。
6. 系統(tǒng)可自動(dòng)設(shè)定符合 VDA19.1-2015/ISO16232-2018 規(guī)定的曝光時(shí)間和閾值。
7. 掃描后的所有顆??蛇M(jìn)行人工審閱復(fù)核和修改,修改結(jié)果實(shí)時(shí)自動(dòng)更新:掃描檢測(cè)完的所有顆粒污染物可進(jìn)一步人工審閱復(fù)核,對(duì)軟件誤判的顆粒及時(shí)進(jìn)行刪除,拆分,合并和更改顆粒屬性。審閱修改的顆粒結(jié)果,在所有視圖和檢測(cè)結(jié)果中實(shí)時(shí)自動(dòng)更新。
8. 用戶權(quán)限分級(jí)管理功能和中英文版本自由切換:全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)可以根據(jù)用戶管理賬號(hào),按照管理員、用戶不同級(jí)別進(jìn)行使用功能的分級(jí)受權(quán),保障系統(tǒng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置等的安全,防止被操作員誤操作意外改動(dòng)和刪除。
9. SQL數(shù)據(jù)庫(kù):常規(guī)分析系統(tǒng)只有顆粒數(shù)據(jù)及MAP圖儲(chǔ)存,無(wú)法數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。本系統(tǒng)增加了SQL數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)功能,可選擇任意時(shí)間段查看并調(diào)出蕞大金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù),并以趨勢(shì)圖表述??蔀樯a(chǎn)過(guò)程控制提供直觀數(shù)據(jù)。
咨詢相關(guān)產(chǎn)品:清潔度檢測(cè)設(shè)備、清潔度顆粒分析系統(tǒng)、清潔度顆粒檢測(cè)儀、清潔度清洗萃取設(shè)備、清潔度萃取設(shè)備、清潔度制樣設(shè)備、清潔度分析儀器、清潔度分析系統(tǒng)、多工位清潔度分析儀、PCB清潔度儀、鋰電清潔度檢測(cè)儀、清潔度測(cè)試儀、清潔度清洗機(jī)、磁性顆粒檢測(cè)儀、磁性顆粒分析儀、金相分析儀請(qǐng)聯(lián)系我們。